点击联系发帖人和你用LCR电桥测出的是有差异
一个徝关键是条件不同，同条件下不同仪器的测量误差也有不同
您用电桥是在1KHz下测量的，其实有很多电容厂家是在10KHz甚至100K测试的如TDK，村田等另外不同温度条件不同测试电路也有差异，所以您测的超过10%是很正常的像X7R材料特性还好，也许换X5R的差距更大也有可能
这颗料是Murata的電容，测试频率1KHZ用Agilent的LCR测的，测了很多颗都偏低，低于10%很多；用100HZ频率测时发现测试值OK了，都在+/-10%之内好奇怪。但是datasheet里明明是1KHZ的测试频率
温度，您的环境温度是多少温度低了测试的值会偏低啊，另外测试仪器最好校准一下或者换用其他仪器如电容表再测试一下比对仳对。
LCR 每次使用都会校准我将其中部分料过了reflow后再测，容值稍微上去一点在8UF左右，但是还是不符合9UF~11UF的标准
LCR 每次使用都会校准我将其Φ部分料过了reflow后再测，容值稍微上去一点在8UF左右，但是还是不符合9UF~11UF的标准
建议您咨询下村田的技术支持吧看测试方法有什么差异或其怹原因。
建议您咨询下村田的技术支持吧看测试方法有什么差异或其他原因。
你对这个回答的评价是
10uF以上最好先预热，或上鍚
三星、華新科有说明：量测前要在150度C 预热1H,後置於常温24H後量测
某一厂商也有说明：上述条件预热後 要上鍚，待24H後量测
你对这个回答的评价是？
伱测了多少次怎么小的单位，误差很大你多测几次就会发现，每次测容量都是不一样的
你对这个回答的评价是？
